靜電衰減分析儀

JCI176試樣臺(tái)（放置試樣，并測(cè)試電容負(fù)載）

JCI173試樣杯（放置粉體或液體材料）

測(cè)試儀和試樣臺(tái)連接線纜

接地線

長(zhǎng)USB數(shù)據(jù)線（用于連接電腦）

短USB數(shù)據(jù)線（用于外接U盤）

配套軟件

• JCI-155v6靜電衰減分析儀
   
  
  

  英文名稱	：	Electrostatic Charge Decay Time Analyser
  產(chǎn)品描述	：	電暈放電法測(cè)試靜電衰減期
  產(chǎn)品品牌	：	JCI
  產(chǎn)品產(chǎn)地	：	英國(guó)
  訂購(gòu)貨號(hào)	：	JCI155v6

  美國(guó)國(guó)家航空和宇宙航行局（NASA）指定采用產(chǎn)品

• IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備

• 可以測(cè)試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時(shí)間

• 同時(shí)測(cè)試靜電衰減時(shí)間和電容負(fù)載

• 可直接放置在成型材料上測(cè)試

• 量程：10毫秒-99小時(shí)

• 分辨率：10毫秒

• 電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負(fù)極性）

• 衰減比例：可設(shè)置1%-99%

• 同時(shí)測(cè)量環(huán)境溫濕度

• 特別設(shè)計(jì)氣閘效應(yīng)，消除殘留空氣離子干擾

• 高精度靜電壓測(cè)試探頭

• 配套JCI176樣品臺(tái)可測(cè)量轉(zhuǎn)移到測(cè)試料樣上的電量，并計(jì)算出電容負(fù)載

• 配套JCI173樣品杯可以測(cè)量粉體和液體的靜電衰減期

• 配套JCI-Graph軟件遠(yuǎn)端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報(bào)告，分析/打印/儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。

靜電衰減分析儀

JCI176試樣臺(tái)（放置試樣，并測(cè)試電容負(fù)載）

JCI173試樣杯（放置粉體或液體材料）

測(cè)試儀和試樣臺(tái)連接線纜

接地線

長(zhǎng)USB數(shù)據(jù)線（用于連接電腦）

短USB數(shù)據(jù)線（用于外接U盤）

配套軟件