1.1 系統(tǒng)概述

SC2010半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)是一款非常具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管參數(shù)測試圖示系統(tǒng)，是美國STI5000系列測試機的國產(chǎn)替代機型，本系統(tǒng)可自動生成功率器件的 I-V 曲線，也可根據(jù)客戶的實際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析， IQC 來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應(yīng) 用。系統(tǒng)生成的曲線都使用 ATE 系統(tǒng)逐點建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測試時間是 6 to 20ms,通常上百 個數(shù)據(jù)點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入 EXCEL 等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的半導(dǎo)體測試設(shè)備。

本系統(tǒng)使用方便，只需要通過 USB 或者 RS232 與電腦連接，通過電腦中友好的人機界面操作，即可完成測試。并可以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以 EXCEL 和 WORD 的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測 試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設(shè)備狀態(tài)和測試結(jié)果提供了可靠地保證。

1.2 系統(tǒng)指標(biāo)

測 試 電 壓：  ≤2KV  

測 試 電 流：  ≤100A

電壓分辨率：  1mV

電流分辨率：  0.1nA

測 試 精 度：  0.2%+2LSB

測 試 速 度： 約0.5ms/參數(shù)

測 試 方 式： 程控脈沖式

脈 沖 寬 度： 300us至5ms

規(guī) 格 尺 寸： 570*450*280mm

1.3 產(chǎn)品特點

測試范圍廣（19 大類，27 分類）

擴展性強，支持電壓電流階梯式升級至 2000V,1250A

被測器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止，保證被測器件不受損壞

動態(tài)跨導(dǎo)測試精準(zhǔn)（主流的直流法測得，其結(jié)果與實際值偏差很大）

系統(tǒng)故障在線判斷定位設(shè)計，便于應(yīng)急處理排障

二極管極性自動判別功能，無需人工操作

IV 曲線顯示 / 局部放大

過壓過流保護以防損壞器件

品種繁多的曲線

可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱

曲線和數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL

1.4 測試能力

SC2010測試系統(tǒng)是專為測試半導(dǎo)體分立器件而研發(fā)設(shè)計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實 準(zhǔn)確測試以下類型的半導(dǎo)體器件以及相關(guān)器件組成的組合器件、器件陣列：

1.5 曲線列舉（部分）

MOSFET曲線

ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS

IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID

RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS

TRANSISTOR曲線

HFE vs. IC

BVCE（O,S,R,V）vs. IC

BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC

VCE（SAT）vs. IC

VBE（SAT）vs. IC

VBE（ON）vs. IC （use VBE test）

VCE（SAT）vs. IB at a range of ICVF vs. IF

1.6 應(yīng)用領(lǐng)域

分立器件設(shè)計廠家、封裝廠器件測試、電子產(chǎn)品廠家來料檢驗、實驗室選型配對、設(shè)備維修分析、高校器件教學(xué)、研究所器件設(shè)計等等。