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    包郵 關(guān)注:32

    晶體管參數(shù)測試儀 半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)SC2020

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試

    庫       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    型號:

    所屬系列:半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試

      SC2020晶體管參數(shù)測試系統(tǒng)

    系統(tǒng)概述

    SC2020晶體管參數(shù)測試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導(dǎo)體分立器件電學(xué)參數(shù)測試的專用設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測或封裝成測,各類整機(jī)廠家、科研院所的質(zhì)量檢測部門IQC進(jìn)行來料檢驗,研發(fā)部門進(jìn)行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。

    系統(tǒng)為桌面放置的臺式機(jī)結(jié)構(gòu),由測試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級進(jìn)行自動分類存放。能夠極好的應(yīng)對“來料檢驗 ”“失效分析 ”“選型配對 ”“量產(chǎn)測試 ”等不同應(yīng)用場景。

    系統(tǒng)軟件基于Labview平臺開發(fā),填充式菜單界面,帶自動糾錯功能,可進(jìn)行器件參數(shù)的分檔、分類編程,并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結(jié)果,測試結(jié)果和統(tǒng)計結(jié)果均可以EXCEL格式存貯于計算機(jī)中,根據(jù)需要可以打印輸出。

    系統(tǒng)特點

    ◆  系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設(shè)計

    ◆  可測試7大類26分類的電子元器件

    ◆  程控高壓源1400V,提供2000V選配

    ◆  程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配

    ◆  控制極電壓可達(dá)40V,電流可達(dá)100mA

    ◆  系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集采用16位ADC,1M/S采樣速率

    ◆  測試漏流最小分辨率達(dá)1.5pA

    ◆  四線開爾文連接保證加載測量的準(zhǔn)確

    ◆  Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

    ◆  連接分選機(jī)測試量為每小時1萬個

    ◆  可為用戶提供豐富的測試適配器

    ◆  可選配測試結(jié)電容,諸如Ciss,Crss,Coss;

    ◆  系統(tǒng)符合《GJB128半導(dǎo)體分立器件試驗方法》等相應(yīng)的國軍標(biāo)及國際標(biāo)準(zhǔn)。

    系統(tǒng)指標(biāo)

    ? 技術(shù)指標(biāo)

    系統(tǒng)功能模塊

    量程

    分辨率

    精度

    低壓源(FV)

    0~±40V

    1uV

    ±0.1%

    低流源(FI)

    0~±100mA

    1pA

    ±0.1%

    高壓源(HVS)

    0~±1400V/2000V

    1mV

    ±0.5%

    高流源(HIS)

    0~±40A/100A/200A/500A

    1uA

    ±1%

    電壓測量(MV)

    0~±1400V/2000V

    1uV

    ±0.1%

    電流測量(MI)

    0~±40A/100A/200A/500A

    1pA

    ±0.1%

     

    ? 測試能力

    器件種類

    測試參數(shù)

    二極管類

    (含TVS SBD ZENER整流橋)

    BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配)

    三極管

    BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配(Ciss、Coss、Crss)

    可控硅/雙向可控硅

    IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM

    場效應(yīng)管

    VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss)

    IGBT

    BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配(Ciss、Coss、Crss)

    壓敏電阻

    VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka

    光耦

    VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、

    選配(Tr、Tf)

    三/四端穩(wěn)壓器

    Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro

    繼電器

    Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配(Ton、Toff)

    功率驅(qū)動器、

    高邊功率開關(guān)

    Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt

    電壓保護(hù)器

    Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr

    基準(zhǔn)IC模塊

    Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka

    傳感監(jiān)測類

    電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

    霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

    電壓監(jiān)控器(選配);電壓復(fù)位IC(選配);

    應(yīng)用領(lǐng)域及場景

    >測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試)

    >失效分析(對失效器件進(jìn)行測試,查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案)

    >選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)

    >來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

    >量產(chǎn)測試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實現(xiàn)規(guī)?;?、自動化測試)

     

     

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