符合MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗標準要求；
系統(tǒng)能滿足各種封裝形式中、小功率的LED穩(wěn)態(tài)壽命試驗、間歇壽命試驗以及電流沖擊老化篩選試驗。
數(shù)據(jù)庫加載導入，自動完成試驗過程，方便操作使用；被試器件DUT老化電源采用分區(qū)統(tǒng)一供給，程控方式；被試器件DUT可通過計算機檢測、記錄輸入輸出電壓、電流；可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測試程序。
高溫試驗箱1臺，16個試驗通道，40×16=640位，標配8臺試驗電源，電源規(guī)格可選；
設備具有試驗電壓上限、溫度上限的設定，老化時間的設定；實時監(jiān)測并顯示每通道的老化時間、老化進度、失效工位數(shù)等；實時顯示并記錄保存老化參數(shù)；實時判斷是否超限，超限報警并記錄超限工位及超限時間；老化參數(shù)方便調用、可生成試驗報表、可繪制漏電流變化曲線。
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