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    包郵 關(guān)注:729

    8英寸射頻芯片專用探針臺

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試-手動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    siradar

    規(guī)格型號：

    TPS200RF

    發(fā)貨期限：

    30天

    庫       存：

    50

    產(chǎn)       地：

    中國-四川省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    ￥180000.00
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌：siradar

    型號：TPS200RF

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試-手動探針臺

     應(yīng)用方向：GaAs等射頻芯片S參數(shù)測試


    TPS200RF半自動測試探針臺針對8英寸晶圓片測試而設(shè)計(jì)的一體化在片測試解決方案，專門為射頻微波芯片參數(shù)測試而設(shè)計(jì)。探針臺載片臺平面采用鋁合金鍍金保證測試過程中的低接觸電阻、超薄晶圓片處理和功率耗散，同時(shí)提供低漏電噪聲的保護(hù)及屏蔽環(huán)境。產(chǎn)品可替代美國CASCADE對應(yīng)的探針臺Summit12000。

     

    AutoMap探針臺控制軟件簡單直觀控制載片臺XYZ三向的步進(jìn)移動，wafer圖形分布描述，芯片圖像對準(zhǔn)，坐標(biāo)定位等功能，同時(shí)配置經(jīng)典的四向迷你位置操作鍵盤。

     

    ATE2.0 S參數(shù)自動化測試軟件可控制網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀等，支持自動化測試探針臺，實(shí)現(xiàn)晶圓在片的自動化批量篩選測試。


    主要功能：
    WaferMap圖描述：采用工業(yè)相機(jī)，通過圖像算法實(shí)時(shí)掃描Wafer并對Die進(jìn)行對準(zhǔn)
    Chuck控制：AutoMap軟件或經(jīng)典鍵盤多向操控Chuck移動
    Wafer圖形模式：圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式，可自定義學(xué)習(xí)模式。
    Die坐標(biāo)查詢：實(shí)時(shí)顯示更新Die相對坐標(biāo)
    打點(diǎn)方式：噴墨，離線打點(diǎn)、異步打點(diǎn)
    測試接口：TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng)
    支持探針：直流鎢探針、RF探針、高壓探針，大電流探針
    支持儀器：網(wǎng)絡(luò)分析儀、LCR表
    支持軟件：ATE2.0參數(shù)測試軟件

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